ZCLK-001A聲學(xué)激光分析儀可以測試電聲產(chǎn)品的性能參數(shù)包括頻響曲線、阻抗曲線、諧波失真、互調(diào)失真、異音測試等。 其中異音測試是傳統(tǒng)測試系統(tǒng)的弱點(diǎn)。所謂異音(rub and buzz )是指用掃頻信號測試揚(yáng)聲器時(shí),產(chǎn)生惱人的雜音,是由系統(tǒng)非線性引起的。異音的產(chǎn)生大多是由揚(yáng)聲器的制造缺陷引起的,例如松散的振膜,松散的線圈,非中心振膜,線圈的摩擦,漏氣或其他缺陷。這些缺陷造成短脈沖具有突然變化的瞬時(shí)能量,從而產(chǎn)生令人耳不安的雜音。經(jīng)過訓(xùn)練的聽音者可以有效地分辨出異音,但需要耗費(fèi)大量的人力物力,且聽力疲勞會降低測試的準(zhǔn)確性,因此不適合用于生產(chǎn)線上的產(chǎn)品測試。
型號
ZCLK-001A
頻率范圍
20-2000Hz
頻帶均勻度
20-20000Hz±1dB
100dB
102.4ks/s
≤0.5%(全頻段)
9Vrms
200mA
AC 220V+10%,3A DC 24V±10%,0.5A
5~40°C
0~60°C
不大于 RH90%
86kPa~104kPa
200mm(寬)×350mm(深)×250mm(高)
6KG(凈重)
主要關(guān)鍵揚(yáng)聲器參數(shù)(Rms、Kms、BL、Re、Res、FO、Mms、Cms、Qms、Qes、Qts)等電和機(jī)械特性參數(shù)
可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)和多點(diǎn)的揚(yáng)聲器振膜位置監(jiān)控。分析產(chǎn)品在不同的輸入功率下和音膜振動位移的關(guān)系、振膜搖擺分割振動狀態(tài)。測試揚(yáng)聲器音膜的振動對稱,以及多點(diǎn)位置下的位移一致性,分析產(chǎn)品分割振動模態(tài)。
包含(FR、SPL、THDHD、HOHD、Rub&buzz、BBN 、IMP、Puresound )優(yōu)點(diǎn)能夠符合一般聲學(xué)廠商的聲學(xué)性能測試要求,簡潔方便既可以作為研發(fā)分析用,也可以作為產(chǎn)線批量檢測用。本設(shè)備集成目前主流聲學(xué)測試應(yīng)用軟件,并推陳出新,并根據(jù)聲學(xué)業(yè)內(nèi)20年的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)添加真正能夠代替人耳純音的測試功能。配合合適的硬件能夠完全代替人耳測試純音。
可以在給揚(yáng)聲器測試信時(shí)候附加一個(gè)正向或則負(fù)向的DC ofiset,讓揚(yáng)聲器工作時(shí)音圈位置正偏或則負(fù)偏。通過電壓回采測試實(shí)際揚(yáng)聲器兩端偏置電壓,并通過激光實(shí)時(shí)測試揚(yáng)聲器音膜的偏置位移。并測試出在各個(gè)不同偏置位移下的聲學(xué)性能指標(biāo),包括(FR、THDHOHD、純音)等變化趨勢。
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